老朽化試験システムで稼働しているテストプログラムを新しい試験装置へ移植

電子機器及びシステム製品の機能・性能試験検証を効率良く高精度に行なう技法として、SDKはテストデータ変換用中間フォーマットTDIF (Test Data Intermediate Format)を開発し、試験仕様書(TRD)、試験プログラムなどのテストデータ双方向移植・変換を自動化し、貴社のテスト戦略をサポートいたします。

特定の自動試験システム用に開発されたテストプログラムを別の自動試験システムへ移植

    • 老朽化した自動試験システムの古い試験用言語(IEEE/ARINC ATLASなど）で記述されたテストプログラムを新たに開発する自動試験システム用の新しいテストプログラムへの移植・変換
    • 現有の自動試験システムで動作中のテストプログラムを別の自動試験システムのテストプログラムに移植・変換

試験要求仕様書と自動試験システムのテストプログラム間の双方向データ移植・変換

    • 古い試験要求仕様書を基に新たに開発する自動試験システムのテストプログラムへ変換
    • 現有の自動試験システムのテストプログラムから種々試験要求仕様書を作成